
ZEISS Visioner 1
Kính hiển vi kỹ thuật số sử dụng công nghệ MALS™, cho phép kiểm tra quang học toàn tiêu cự theo thời gian thựcCác hệ thống kiểm tra trước đó cung cấp độ sâu trường ảnh nông, điều này có nghĩa là các bộ phận của mẫu có thể không được lấy nét tất cả, điều này có thể dẫn đến thiếu tính năng, thông tin kiểm tra thu nhận được không đầy đủ và không thể đáp ứng yêu cầu người dùng.
ZEISS Visioner 1 đã cách mạng hóa công cuộc kiểm tra quang học. Được thúc đẩy bởi công nghệ hệ thống thấu kính gương vi mô độc đáo (công nghệ MALSTM), lần đầu tiên các bộ phận có thể được xem rõ nét ở nhiều vị trí một cách toàn diện.
Độ sâu trường ảnh mở rộng theo thời gian thực (EDoF)
EDoF là một quá trình trong đó nhiều hình ảnh thông qua mặt phẳng tiêu cự được kết hợp để tạo ra một hình ảnh lấy nét.
Với các hệ thống kính hiển vi cổ điển, điều này có thể tốn thời gian và phức tạp. ZEISS Visioner 1 cho phép người dùng xem mẫu hoàn toàn trong tiêu điểm trong thời gian thực, mà không cần Z-Stack và xử lý một loạt hình ảnh.
Công nghệ hệ thống ống kính gương vi mô (MALS™) độc đáo cho phép mở rộng độ sâu trường ảnh (EDoF) một cách nhanh nhất.
Định hình lại các quy tắc của quang học
Công nghệ hệ thống thấu kính gương vi mô (MALS™)MALS™ cho phép kiểm tra quang học ở các điểm có chênh lệch chiều cao lên đến 69 mm mà vẫn trong vùng lấy nét. Không cần xếp chồng Z hoặc lấy nét lại.
Sử dụng hệ thống thấu kính gương vi mô (MALS™) cho phép chúng tôi tạo ra các ống kính "ảo" với độ cong khác biệt rõ rệt, tạo ra các mặt phẳng lấy nét khác nhau. Điều này đạt được bằng cách thay đổi định hướng của từng gương vi mô theo một cách có tổ chức.
Định hình lại độ cong của ống kính "ảo" này ở tốc độ cho phép lấy nét cực nhanh và chụp ảnh lấy nét toàn tiêu cự theo thời gian thực.

ZEISS Visioner 1 được thúc đẩy bởi công nghệ MALS™
- Độ sâu trường ảnh mở rộng có thể sử dụng lên đến 100 lần
- Cho phép chênh lệch chiều cao lên đến 69mm
- Mảng gương vi mô phản chiếu với độ cong (có thể thay đổi) được sắp xếp trong một mặt phẳng
- Mỗi mảng gương vi mô khoảng 100x100 µm
- Mỗi mảng gương vi mô quay & dịch chuyển để tạo thành các bề mặt quang học với độ cong thay đổi
- Không cần xếp chồng Z hoặc lấy nét lại

Cung cấp hình ảnh 3D nhanh nhất và tài liệu hỗ trợ cho việc phân tích
Ứng dụng
So sánh hình ảnh của bảng điện và kim, sử dụng Phương pháp kiểm tra cổ điển so với ZEISS Visioner 1. Công nghệ MALS™ mới giúp xem chi tiết rõ nét hoàn toàn, ngay lần đầu và mọi lúc.

Bảng điện
Kiểm tra bằng kính hiển vi cổ điển

Bảng điện
Được kiểm tra bởi ZEISS Visioner 1

Kim
Kiểm tra bằng kính hiển vi cổ điển
