Semiconductor Materials Seminar
at VKIST
- 00 năm
- 00 tháng
- 00 ngày
- 00 giờ
- 00 phút
- 00 giây
Giải pháp kính hiển vi cho nghiên cứu vật liệu bán dẫn và kỹ thuật mô tả đặc tính tiên tiến của nó.
Hãy tham gia cùng chúng tôi để khám phá toàn diện các giải pháp kính hiển vi tiên tiến và các kỹ thuật mô tả đặc tính tiên tiến được thiết kế riêng cho nghiên cứu về vật liệu bán dẫn. Tương tác với các chuyên gia trong ngành và đi sâu vào các chủ đề như hình ảnh có độ phân giải cao, quy trình làm việc của kính hiển vi tương quan và hình ảnh 3D không phá hủy.
Dưới đây là một cái nhìn thoáng qua về những gì mong đợi:
- Các bài thuyết trình sâu sắc của Tiến sĩ Feng Lin Ng từ ZEISS về các chủ đề bao gồm hình ảnh độ phân giải cao, phân tích nâng cao và quy trình làm việc của kính hiển vi tương quan.
- Cơ hội kết nối và trao đổi kiến thức với các nhà nghiên cứu và chuyên gia trong ngành bán dẫn.
- Đừng bỏ lỡ cơ hội độc quyền này để luôn đi đầu trong nghiên cứu vật liệu bán dẫn.
Chi tiết
Thời gian: 23/04/2024 (Sự kiện nửa ngày), 8:00 sáng đến 11:30 sáng
Địa điểm: Viện Khoa học và Công nghệ Việt Nam – Hàn Quốc (VKIST)
2G8M+F6R Khu Công nghệ cao Hòa Lạc, Thạch Hòa, Thạch Thất, Hà Nội
Ban tổ chức hội thảo
ZEISS xin gửi lời cảm ơn đến các đơn vị đồng tổ chức
Chương trình nghị sự
Ngày 23 tháng 4 năm 2024
08.00 – 08.30 |
Registration |
---|---|
08.30 - 08.40 |
Opening address |
08.40 - 09.30 |
Perform High-Resolution Imaging, Advanced Analytics and Correlative Microscopy Workflow of Semiconductor Materials with ZEISS Gemini FE-SEM |
09.30 - 10.00 |
Non-Destructive 3D Imaging, Advanced AI-driven Analytics and Correlative Microscopy Workflow of Semiconductor Materials with ZEISS Xradia Versa X-ray Microscope (XRM) |
10.00 - 10.15 |
Tea break |
10.15 - 11.10 |
Revolutionary Sample Preparation, Superior Imaging and Advanced Analytics of Semiconductor Materials with ZEISS Crossbeam FIB-SEM & LaserFIB |
11.10 - 11.30 |
VKIST Lab Tour |
Hãy tham gia cùng chúng tôi để có một ngày đầy thông tin về những hiểu biết sâu sắc của chuyên gia, công nghệ tiên tiến và cơ hội kết nối. Đăng ký ngay bây giờ để đảm bảo vị trí của bạn!
Dr. Feng Lin Ng is a Business Development Specialist in APAC for Materials Research atZEISS Research Microscopy Solutions. She received her PhD degree in Materials Science and Engineering from the Nanyang Technological University, Singapore, focusing on the development of polymeric cell culture systems. Prior to ZEISS, she worked as a Research Scientist at SIMTech, A*STAR with a focus on polymer process development and its materials-process-properties study for applications in MedTech, Aerospace & Sustainability. She currently supports the business development of Electron & X-Ray Microscopy for Materials Science research in ZEISS.
Sky obtained his B.Eng. (Honors) from Nanyang Technological University (NTU) in 2009. From 2009 to 2015, he worked as a Research Assistant at Temasek Laboratories@NTU while continuing to pursue his Ph.D. degree in Materials Science and Engineering. Upon conferring his Ph.D., he worked as a Research Scientist at NTU until 2017. His research at NTU focused on the synthesis, sintering, characterization, and mechanical testing of nanostructured metallic, ceramic, and composite materials for defence applications.
Sky joined ZEISS Singapore as a Regional Application Specialist in 2017. He currently focuses on X-Ray Microscopy (XRM), Electron Microscopy (EM, such as FE-SEM & C-SEM) and Light Microscopy product segment for materials science applications.