ZEISS scatterControl

Chất lượng hình ảnh CT vượt trội

Giải pháp phần cứng để tối ưu hóa chất lượng hình ảnh

Mô-đun ZEISS scatterControl cải thiện đáng kể chất lượng hình ảnh và giảm hiện tượng phân tán của chụp CT xuống mức tối thiểu. Những cải tiến này giúp đơn giản hóa các bước xử lý và đánh giá dữ liệu cho các chi tiết đạt yêu cầu, mang lại kết quả xác định bề mặt và phân tích khuyết tật chính xác hơn. Sản phẩm này lý tưởng cho các bộ phận có khối lượng lớn và mật độ dày, chẳng hạn như các bộ phận kim loại được sản xuất bồi đắp và các bộ phận đúc nhôm, ngay cả với các lớp khảm thép, cũng như các cụm khác có chứa vật liệu mật độ dày hơn.

Mô-đun này có sẵn cho ZEISS METROTOM 1500 225kV G3, dưới dạng giải pháp trang bị thêm hoặc là một phần của việc mua hệ thống mới. Nâng cấp hệ thống của bạn với ZEISS scatterControl ngay bây giờ và hưởng lợi từ chất lượng hình ảnh vượt trội để đánh giá dữ liệu dễ dàng hơn nhiều.

Chất lượng hình ảnh tốt hơn, phát hiện khuyết tật tốt hơn

ZEISS scatterControl cải thiện đáng kể chất lượng hình ảnh CT bằng cách giảm sự xuất hiện của các tạo ảnh gây ra bởi bức xạ tán xạ. Độ tương phản giữa các linh kiện khác nhau được tăng lên và việc phát hiện khuyết tật được đơn giản hóa: Các khu vực trên mẫu mà trước đây gần như không thể đánh giá bây giờ có thể được kiểm tra.
Cải thiện khả năng xác định bề mặt

Không chỉ phát hiện khuyết tật, mà chất lượng tổng thể của việc xác định bề mặt cũng được hưởng lợi từ ZEISS scatterControl. Đây là lợi thế đáng kể cho các ứng dụng đo lường trên các mẫu khó, nơi các hiện vật gây mất tập trung trong quá trình xác định bề mặt khi chúng không được sửa chữa.
Quét nhanh với chế độ VAST

ZEISS scatterControl hoạt động với cả ‘Stop and Go’ và chế độ quét VAST. Giải pháp scatterControl cung cấp chất lượng hình ảnh vượt trội cho CT chùm tia hình nón có thể so sánh với chất lượng của CT chùm tia quạt – nhưng với thời gian quét nhanh hơn tới 1000 lần.
Dễ sử dụng

ZEISS scatterControl là một giải pháp chỉ với một cú nhấp chuột. Mô-đun hoạt động trơn tru với các tính năng hữu ích khác của METROTOM OS, chẳng hạn như VHD (Virtual Horizontal Detector Extension), AMMAR (Advanced Mixed Material Artifact Reduction) hoặc VolumeMerge và được tích hợp đầy đủ trong phần mềm.

ZEISS scatterControl để phân tích khuyết tật tốt hơn

ZEISS scatterControl cải thiện đáng kể chất lượng hình ảnh chụp CT cho một loạt các bộ phận và ngành công nghiệp. Có nhiều lý do rõ ràng cho điều đó, từ việc loại bỏ tạo ảnh hiệu quả đến vị trí của mô-đun liên quan đến mẫu, điều này làm cho ZEISS scatterControl trở thành lựa chọn lý tưởng. Tìm hiểu cách bạn có thể sử dụng mô-đun để phát hiện và phân tích khuyết tật nổi bật bên dưới.

Giảm tạo ảnh để cải thiện chất lượng hình ảnh CT

ZEISS scatterControl tạo ra sự khác biệt rõ ràng. Sử dụng thanh trượt để so sánh chất lượng hình ảnh X-ray có thể đạt được khi có và không có mô-đun scatterControl. Hình ảnh được cải thiện cho thấy độ tương phản cao hơn và ít hiện vật hơn, làm cho các chi tiết nổi bật hơn nhiều.

Chất lượng vượt trội do định vị mô-đun

ZEISS scatterControl đạt được chất lượng vượt trội so với các sản phẩm tương tự do nguyên lý làm việc của mô-đun: Nó được đặt giữa ống và đầu dò. Các vật thể nhỏ hơn như các bộ phận được sản xuất bồi đắp mật độ cao có thể được đặt ở phía trước mô-đun, các vật thể lớn hơn phía sau. Nó hoạt động theo một trong hai cách. Hơn nữa, cảm biến va chạm vật lý được tích hợp và phần mềm dự đoán va chạm tiên tiến giúp phòng tránh va chạm một cách hiệu quả.

Lý tưởng cho một loạt các bộ phận và ngành công nghiệp

Xưởng đúc: Các bộ phận nhôm hoặc magiê lớn, ngay cả với khảm thép
Ô tô: Chi tiết đúc có lõi thép, điện tử công suất
Sản xuất bồi đắp: Các bộ phận mật độ cao, được in bằng kim loại

Cải thiện kiểm tra 3D

Những cải tiến về khối lượng dữ liệu dẫn đến việc đánh giá dễ dàng hơn nhiều. Bề mặt 3D có thể được xác định và dựng hình mà không bị ảnh hưởng bởi các tạo ảnh gây nhiễu. Nhiều hiện vật thường là kết quả của tán xạ và gây ra các bề mặt giả trong 3D cản trở các phép đo chính xác.

Phần mềm đánh giá đáng tin cậy để kiểm tra X-ray

Phần mềm ZEISS Automated Defect Detection (ZADD) phát hiện ngay cả những khuyết tật nhỏ nhất – đối với các linh kiện đúc phun, y tế, sản xuất bồi đắp và hơn thế nữa.

Tìm hiểu thêm

Các bộ phận được hưởng lợi nhiều nhất từ ZEISS scatterControl bao gồm các bộ phận nhôm hoặc magiê lớn, vật đúc với lõi thép, điện tử công suất, cũng như các chi tiết in kim loại mật độ cao và in kim loại để chỉ một số ví dụ.
ZEISS scatterControl là một giải pháp chỉ với một cú nhấp chuột. Bảo vệ chống va chạm phần mềm và phần cứng đã được tích hợp, có nghĩa là bạn có thể bắt đầu quá trình quét mà không cần thêm bất kỳ bước nào.
Có, ZEISS scatterControl là một giải pháp trang bị thêm lý tưởng cho ZEISS METROTOM 1500 G3. Các bản cập nhật, ví dụ cho METROTOM OS, có thể được yêu cầu để tăng cường CT của bạn với mô-đun scatterControl.

Liên hệ với chúng tôi

Bạn quan tâm tìm hiểu thêm về sản phẩm hoặc dịch vụ của chúng tôi? Chúng tôi rất vui được cung cấp thêm thông tin hoặc bản demo trực tiếp – từ xa hoặc gặp mặt trực tiếp.

Cửa hàng ZEISS Metrology

Dễ dàng đặt mua đầu dò, phụ kiện đo lường và nhiều sản phẩm khác

Cổng thông tin ZEISS Metrology

ruy cập đầy đủ các hệ thống và dịch vụ phần mềm

Học viện Đo lường ZEISS

Chương trình đào tạo đo lường cá nhân hóa của bạn – có sẵn ở nhiều hình thức khác nhau

Bạn cần thêm thông tin?

Hãy liên hệ với chúng tôi. Các chuyên gia của chúng tôi sẽ phản hồi bạn sớm nhất có thể.

Biểu mẫu đang tải ...

Bước tiếp theo:

Thăm dò quan tâm
Thông tin cá nhân
Thông tin công ty

Nếu bạn muốn biết thêm thông tin về việc xử lý dữ liệu tại ZEISS, vui lòng tham khảo thông báo về quyền riêng tư của chúng tôi.

zeiss.com.vn/data-protection/home.html

ZEISS scatterControl

Giải pháp phần cứng để tối ưu hóa chất lượng hình ảnh

Bạn được hưởng lợi như thế nào từ ZEISS scatterControl

Chất lượng hình ảnh tốt hơn, phát hiện khuyết tật tốt hơn

Cải thiện khả năng xác định bề mặt

Quét nhanh với chế độ VAST

Dễ sử dụng

ZEISS scatterControl để phân tích khuyết tật tốt hơn