ZEISS INSPECT Optical 3D 2026

Với bản phát hành trước, chúng tôi cung cấp một quy trình làm việc trực quan và tập trung hơn vào nhiệm vụ mới cho các khuyết tật bề mặt giúp mở ra những khả năng mới. Không cần mã hóa. Các khuyết tật được định nghĩa là các phần tử yêu cầu phải kiểm tra nhiều hơn. Chúng tôi cung cấp khả năng loại bỏ các khuyết tật theo ngưỡng và bộ lọc. Đường cong khuyết tật bề mặt cho các khu vực rộng lớn làm giảm thời gian tính toán.

Với phiên bản trước, các tiêu chuẩn ISO và ASME GD&T mới nhất được hỗ trợ cho toàn bộ dự án. Các cải tiến bao gồm các bộ lọc chuyên gia GD&T tích hợp mới cho các hình học cơ bản và cải tiến PMI như TED, quản lý dữ liệu và phân tích cơ sở.

Bạn muốn xác định trước một thẻ với các tiêu chí đặc biệt? Với bản phát hành trước đó, điều này trở nên dễ dàng hơn. Các phần tử được thêm vào thẻ hoặc xóa khỏi thẻ theo tham số, cho phép truy xuất nguồn gốc. Đơn giản chỉ cần lọc ví dụ theo tên, theo phạm vi hoặc trạng thái dung sai.

Với các cụm phát hành trước đó đã trở thành tham số và có thể chỉnh sửa các cụm cụ thể. Họ nằm trong danh mục nhà thám hiểm theo thể loại của riêng họ. Tận dụng lợi thế từ khả năng truy xuất nguồn gốc đầy đủ của các cụm tham số.

Một dự án duy nhất có thể xử lý dữ liệu từ nhiều cảm biến. Ví dụ, cả cảm biến ATOS và cảm biến Laser đều có thể thu thập dữ liệu trong cùng một dự án và tạo ra một khung lưới đơn lẻ. ScanBox Series 8 và các tế bào robot kép khác cũng có thể hoạt động thông qua một máy tính duy nhất. Tất cả các dự án có thể được thực hiện từ một máy tính duy nhất, giảm đáng kể thời gian chu kỳ.

Nhiều cải tiến về tốc độ và chức năng kịch bản đi kèm với bản phát hành trước đó của phần mềm. Ví dụ: sơ đồ tập lệnh đã được thêm vào và cho phép nhập các thư viện bên ngoài để vẽ biểu đồ kết quả theo cách tùy chỉnh.

Bản phát hành năm nay cung cấp việc đánh số tự động các lần kiểm tra dung sai. Nhận các bộ lọc GD&T, ví dụ: các phương pháp lọc theo biên dạng và lọc theo diện tích theo tiêu chuẩn ISO 16610 hoạt động với dữ liệu quang học (khung lưới) và tiếp xúc (đám mây điểm).

Tùy chỉnh phần mềm theo nhu cầu của bạn và tối ưu hóa ZEISS INSPECT với các ứng dụng. Chúng tôi cung cấp các ứng dụng mới được phát triển liên tục và khả năng phát triển các ứng dụng riêng với nhiều công cụ như Trình chỉnh sửa ứng dụng hoặc tài liệu trên trang ZEISS GitHub.

Bản phát hành này bao gồm ứng dụng Autosurfacing để chuyển đổi dữ liệu quét sang mô hình CAD chính xác có thể được sử dụng cho các bước xử lý tiếp theo như đầu vào cho hệ thống CAM, mô phỏng và tạo mẫu hoặc thiết kế sản phẩm hữu cơ.

Với bản phát hành này, chúng tôi cung cấp các cải tiến thuật toán và phát hiện cạnh chắc chắn hơn ở các cạnh không rõ ràng. Cải thiện độ ổn định và khả năng lặp lại thông qua tính toán điểm cạnh.

Bản phát hành này loại bỏ sự di động có thể có của bộ phận khiến có thể làm sai lệch phép đo. Các điểm tham chiếu được theo dõi trong quá trình quét và các chuyển động được bù đắp. Tính năng này cho phép quy trình đo ổn định hơn và ít bị ảnh hưởng hơn. Điều này giúp tiết kiệm thời gian, vì các phép đo không phải lặp lại khi chúng bị gián đoạn.