Skip to main content
Industrial Quality Solutions
Bản tin tháng Việt Nam
quay lại
Industrial Quality Solutions
các tìm kiếm được gợi ý
các tìm kiếm phổ biến
ZEISS METROTOM 1500

ZEISS METROTOM 1500

Một hệ thống CT. Nhiều ứng dụng.

Với ZEISS METROTOM 1500, bạn nhận được công nghệ CT tiên tiến – phát hiện chính xác các sai sót bằng cách chụp và đo các khuyết tật bên dưới bề mặt. Điều khác biệt của máy quét CT này: Thiết bị cung cấp hình ảnh nhanh và có độ phân giải cao cho các chi tiết có kích thước nhỏ, vừa và lớn.

  • Quét tốc độ cao
  • Chất lượng hình ảnh CT rõ nét
  • Đo lường chính xác (VDI/VDE 2630 1.3)
  • Tùy chọn Hiệu chuẩn DAkkS
  • Kích thước nhỏ gọn
ZEISS METROTOM 1500
Liên hệ

Lợi ích

Chất lượng hình ảnh tốt hơn
Chất lượng hình ảnh tốt hơn

Chất lượng hình ảnh tốt hơn

Độ phân giải cao và độ chính xác có thể truy xuất

ZEISS METROTOM 1500 có chất lượng hình ảnh vượt trội mô tả rõ ngay cả những khuyết tật nhỏ. Phần mềm AMMAR, BHC và mô-đun phần cứng ZEISS scatterControl tạo nên sự khác biệt cho chất lượng không thể bàn cãi. Máy CT tuân thủ theo tiêu chuẩn VDI/VDE 2630 về độ chính xác có thể truy xuất nguồn gốc.

Nhờ vào trình độ chuyên môn cao về đo lường của ZEISS, được áp dụng trong công nghệ CT, bạn có thể yên tâm về độ chính xác của phép đo. MPE(SD) là 4.5 + L/50 μm theo tiêu chuẩn VDI/VDE 2630 Bảng 1.3 được đảm bảo trên toàn bộ vùng nhìn - bạn có thể tin tưởng vào kết quả đo lường.

Tính linh hoạt của hệ thống

Tính linh hoạt của hệ thống

Phù hợp với nhiều chi tiết và ứng dụng khác nhau

ZEISS METROTOM 1500 quét các chi tiết nhỏ với độ phân giải rất cao và các chi tiết có kích thước đường kính lên đến 615 mm và chiều cao 800 mm dưới dạng tái cấu trúc hoàn chỉnh. Điều này đạt được bằng cách mở rộng trường quan sát cả theo chiều ngang và chiều dọc. Nhờ ống phát linh hoạt với tiêu điểm chỉ vài micromet ở một bên và công suất tối đa 500 W ở bên còn lại, các bộ phận nhỏ có thể được quét với độ phân giải rất cao và các bộ phận lớn có thể được quét trong một khoảng thời gian ngắn. Điều này làm cho hệ thống trở nên lý tưởng cho nhiều ứng dụng

Hiệu chuẩn DAkkS: Cánh cửa dẫn đến các phép đo đáng tin cậy

Hiệu chuẩn DAkkS

Cánh cửa dẫn đến các phép đo đáng tin cậy

Các tiêu chuẩn chất lượng cao hơn trong ngành ô tô, y tế hoặc dược phẩm thường đòi hỏi việc áp dụng các quy trình kiểm tra CT đã được công nhận. Những điều này đảm bảo một phép đo khách quan, tuân thủ theo tiêu chuẩn VDI/VDE 2630 Phần 1.3. Hiệu chuẩn DAkkS cũng có sẵn cho dòng máy chụp cắt lớp vi tính công nghiệp ZEISS METROTOM 1500. Hưởng lợi từ giá trị gia tăng: tiết kiệm chi phí và tạo thêm niềm tin cho khách hàng của bạn.

Thiết kế thông minh cho không gian hạn chế

Thiết kế thông minh cho không gian hạn chế

Sử dụng không gian hiệu quả nhất

Diện tích chiếm dụng tương đối nhỏ và cấu trúc thông minh của cửa dịch vụ và cửa đưa sản phẩm vào đo, cho phép lắp đặt linh hoạt, giúp bạn có thể lắp đặt máy CT vào phòng đo lường của mình ngay cả khi không gian bị hạn chế. Để giúp bạn tận dụng tối đa không gian có sẵn, chúng tôi đã mở rộng thể tích đo trong khi giảm diện tích: Đo và kiểm tra các chi tiết có chiều cao 870 mm với kích thước 3,7 x 1,8 mét – tỷ lệ thể tích hệ thống/chi tiết tốt nhất hiện có trên thị trường.

Kiểm tra các linh kiện hoàn chỉnh

Kiểm tra các linh kiện hoàn chỉnh

Lý tưởng cho các sản phẩm đa vật liệu

Với công nghệ đo lường truyền thống, các cấu trúc ẩn chỉ có thể được kiểm tra sau quá trình phá hủy linh kiện từng lớp rất tiêu tốn thời gian và chi phí. Tuy nhiên, ZEISS METROTOM 1500 là một hệ thống chụp cắt lớp công nghiệp dùng để đo lường và kiểm tra các linh kiện hoàn chỉnh được làm từ nhựa, kim loại nhẹ hoặc thậm chí là đồng hoặc thép.

ZEISS scatterControl​ ​
ZEISS METROTOM scatterControl

ZEISS scatterControl

Chất lượng hình ảnh CT vượt trội

Giải pháp phần cứng ZEISS scatterControl cải thiện đáng kể chất lượng hình ảnh của ZEISS METROTOM 1500 bằng cách giảm các hiện tượng tán xạ khi quét CT xuống mức tối thiểu. Điều này tạo điều kiện thuận lợi cho các bước xử lý và đánh giá dữ liệu tiếp theo, dẫn đến việc xác định bề mặt và phân tích khuyết tật chính xác hơn nữa.

Tìm thêm thông tin

 Khám phá thêm lợi ích của ZEISS METROTOM 1500.

Kiểm soát chất lượng phù hợp với tương lai

Kiểm soát chất lượng phù hợp với tương lai 
Đo lường và kiểm tra các bộ phận lớn hơn

Thế hệ thứ ba của ZEISS METROTOM 1500 cho phép đo các chi tiết lớn hơn trong một lần thiết lập nhờ thể tích đo mở rộng: Với hệ thống di chuyển được thiết kế mới, các bộ phận có chiều cao lên đến 870 mm có thể đặt vừa vào máy CT mà không cần phải điều chỉnh lại vị trí.
Tải xuống tờ rơi ZEISS METROTOM 1500
Kích thước nhỏ gọn

Đối với việc vận chuyển, lắp đặt, bảo trì hoặc không gian chiếm dụng trong phòng thí nghiệm của khách hàng – hệ thống càng nhỏ thì càng tốt. Thiết kế cabin của hệ thống CT công nghiệp lớn nhất của ZEISS dành hoàn toàn cho việc sử dụng hiệu quả không gian, dẫn đến diện tích chỉ 6,7m2.
Vận hành thoải mái hơn

Cửa trước cho phép người vận hành vào bên trong máy và sử dụng nó như một điểm truy cập, giúp gá các linh kiện lớn và nặng thuận tiện hơn. Điều này cho phép người dùng thực hiện các phép đo một cách dễ dàng, an toàn và chính xác. Vì ZEISS METROTOM 1500 không cần thêm không gian đáng kể ở phía trên, phía sau hoặc ở hai bên, hệ thống có thể được lắp đặt rất linh hoạt.

Ứng dụng

  • Ngành

    Ngành

    Thích hợp cho các vật liệu kim loại nhẹ, vật liệu tổng hợp, sản phẩm đa vật liệu, sản phẩm nhựa và sản xuất bồi đắp.

  • Tua bin hàng không vũ trụ

    Hàng không vũ trụ

    Được thiết kế phù hợp để quét chính xác và đáng tin cậy các vật liệu như titan, thép hoặc vật liệu composite, đảm bảo đáp ứng đầy đủ các tiêu chuẩn và yêu cầu về an toàn.

  • Hairpin trong động cơ ô tô

    Ô tô

    Lý tưởng để quét hệ thống truyền động của xe, các linh kiện bảng điều khiển và vật đúc bằng nhôm như đầu xi lanh hoặc vỏ stator.

  • Y tế

    Y tế

    Quét chính xác các bộ phận y tế như kim tiêm, vật cấy ghép, máy xông hoặc máy tạo nhịp tim.

  • Bo mạch chủ điện tử

    Điện tử

    Quét an toàn các đầu nối, pin, bảng mạch PCB và các linh kiện điện khác.

  • Phân tích dữ liệu CT toàn diện bằng X-ray trong không gian 3D với ZEISS INSPECT

    ZEISS INSPECT X-Ray

    Phân tích dữ liệu CT toàn diện trong không gian 3D

    Phần mềm phân tích dễ sử dụng ZEISS INSPECT X-Ray cho phép phân tích dữ liệu CT hoàn chỉnh trong không gian 3D – tự động hoặc tùy chỉnh và phù hợp ngay cả đối với người mới bắt đầu. Các hình học cơ bản, lỗ co ngót hoặc cấu trúc bên trong và cụm lắp ráp có thể được phân tích một cách chính xác. Ngay cả những khuyết tật nhỏ cũng có thể nhìn thấy được thông qua các mặt cắt riêng lẻ. Bạn cũng có thể tải dữ liệu quét của nhiều đối tượng vào một chương trình, thực hiện phân tích xu hướng và so sánh kết quả với dữ liệu CAD – tất cả chỉ trong một phần mềm duy nhất.

  • Phần mềm Tự động nhận diện khuyết tật ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)

    Phần mềm Tự động nhận diện khuyết tật ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)

    Trí tuệ nhân tạo trong chụp cắt lớp vi tính

    Tiện ích bổ sung ZADD trong ZEISS INSPECT X-Ray phát hiện ngay cả những khuyết tật nhỏ và mờ một cách đáng tin cậy, nhanh chóng và tự động. ZADD phát hiện, khoanh vùng và phân loại các khuyết tật hoặc dị thường này trong khi phân tích chúng một cách chi tiết bằng cách đọc hình ảnh quét CT. Phần mềm bổ trợ được phát triển đặc biệt cho các ứng dụng như đúc, đúc phun và các linh kiện in.

  • ZEISS PiWeb Chuyển đổi dữ liệu chất lượng thành kết quả có ý nghĩa

    ZEISS PiWeb

    Chuyển đổi dữ liệu chất lượng thành kết quả có ý nghĩa

    Phần mềm quản lý dữ liệu chất lượng và báo cáo ZEISS PiWeb giúp kết nối kết quả đo lường từ các công nghệ đo khác nhau với các quyết định tại xưởng sản xuất – để theo dõi hiệu quả chất lượng sản xuất và đạt được kết quả ngay lập tức. Sử dụng ZEISS PiWeb để thực hiện các nghiên cứu GR&R (Gauge Repeatability and Reproducibility), quản lý dữ liệu chất lượng, làm việc với dữ liệu thủ công, tạo các thống kê mạnh mẽ và tận dụng các mẫu báo cáo tiêu chuẩn có sẵn.

Các tính năng của ZEISS METROTOM OS

Các giải pháp phần mềm để quét CT hiệu quả 
  • Công nghệ giảm thiểu hiện tượng nhiễu từ vật liệu hỗn hợp tiên tiến (AMMAR)

    Công nghệ giảm thiểu hiện tượng nhiễu từ vật liệu hỗn hợp tiên tiến (AMMAR)

    Xem thêm chi tiết trong sản phẩm của bạn tại vùng chuyển tiếp từ kim loại sang nhựa: Quy trình hiệu chỉnh AMMAR giảm đáng kể các hiện tượng nhiễu xảy ra khi quét các mẫu làm từ vật liệu và độ dày khác nhau, đặc biệt là ở các bộ phận dạng đầu nối có cả kim loại và nhựa.

  • Phần mở rộng giả lập của bộ dò theo chiều ngang (VHD)

    Phần mở rộng giả lập của bộ dò theo chiều ngang (VHD)

    Đo các mẫu có kích thước rộng hơn bộ dò: VHD mở rộng đường kính thể tích có thể chụp được lên đến 80%. Điều này cho phép quét các bộ phận có kích thước rộng hơn đáng kể so với cảm biến hoặc quét các chi tiết nhỏ hơn với kích thước voxel nhỏ hơn, từ đó đạt được độ phân giải cao hơn.

  • Ghép thể tích (VolumeMerge)

    Ghép thể tích (VolumeMerge)

    Hệ thống định vị cực kỳ chính xác, mà chúng tôi đã áp dụng kiến thức từ lĩnh vực đo lường tiếp xúc, đã tăng kích thước của các linh kiện cần đo lên đến 870 mm theo chiều cao. Điều này có nghĩa là các linh kiện với kích thước lớn có thể được chụp toàn bộ chỉ trong một quy trình tự động, mà không cần gài đặt và căn chỉnh lại.

  • ShortScan

    ShortScan

    ShortScan là một chế độ quét trong đó bộ phận chỉ cần di chuyển nhiều hơn một nửa vòng quay thay vì một vòng quay đầy đủ. Điều này cho phép bạn quét các khu vực cụ thể trên bộ phận với độ phân giải cao hơn, vốn có thể bị giới hạn về mặt hình học nếu thực hiện quay toàn bộ vòng.

  • Phân tách

    Phân tách

    Tách tự động giúp tăng năng suất bằng cách quét nhiều linh kiện cùng một lúc và tự động đánh giá chúng riêng biệt, từ đó giảm đáng kể thời gian quét và thao tác của người vận hành.

Dòng sản phẩm ZEISS METROTOM

Tải xuống

Liên hệ với chúng tôi

Bạn quan tâm tìm hiểu thêm về sản phẩm hoặc dịch vụ của chúng tôi? Chúng tôi rất vui được cung cấp thêm thông tin hoặc bản demo trực tiếp – từ xa hoặc gặp mặt trực tiếp.

Cửa hàng ZEISS Metrology

Dễ dàng đặt mua đầu dò, phụ kiện đo lường và nhiều sản phẩm khác

Cổng thông tin ZEISS Metrology

ruy cập đầy đủ các hệ thống và dịch vụ phần mềm

Học viện Đo lường ZEISS

Chương trình đào tạo đo lường cá nhân hóa của bạn – có sẵn ở nhiều hình thức khác nhau

Bạn cần thêm thông tin?

Hãy liên hệ với chúng tôi. Các chuyên gia của chúng tôi sẽ phản hồi bạn sớm nhất có thể.

Biểu mẫu đang tải ...

/ 4
Bước tiếp theo:
  • Thăm dò quan tâm
  • Thông tin cá nhân
  • Thông tin công ty

Nếu bạn muốn biết thêm thông tin về việc xử lý dữ liệu tại ZEISS, vui lòng tham khảo thông báo về quyền riêng tư của chúng tôi.

zeiss.com.vn/data-protection/home.html

Sản phẩm liên quan