ZEISS METROTOM 800 320 kV​

ZEISS METROTOM 800 320 kV có khả năng đâm xuyên qua các chi tiết làm từ vật liệu mật độ lớn, mang lại kết quả đáng tin cậy cùng chất lượng quét vượt trội nhờ bóng phát tia X vi tiêu điểm (micro-focus tube) công suất kV cao. Với công suất đầu ra lên đến 500 W và kích thước tiêu điểm cực nhỏ chỉ vài micro-mét, hệ thống đạt được sự cân bằng hoàn hảo giữa tốc độ và độ phân giải — trở thành lựa chọn lý tưởng cho cả tác vụ dựng hình chi tiết lẫn các quy trình quét nhanh đạt chuẩn đo lường. Phần mềm ZEISS INSPECT X-Ray đảm bảo quy trình làm việc trơn tru và trực quan, từ khâu thu thập dữ liệu quét cho đến phân tích cuối cùng.​

ZEISS METROTOM 800 320 kV mang lại sự linh hoạt tối đa, có khả năng xử lý mọi loại sản phẩm, từ các cánh tuabin phức tạp hay các thiết bị cấy ghép y tế cho đến các đầu nối cỡ lớn và các linh kiện điện tử đa vật liệu có kích thước lớn hơn. Với nguồn tia X có điện áp cao (kV) và các thiết lập quét linh hoạt, hệ thống này mang lại khả năng xuyên thấu và độ chính xác tối ưu, giúp cho ra kết quả chính xác trên các chi tiết có kích thước và chất liệu khác nhau. Điều này khiến nó trở thành giải pháp lý tưởng cho cả công tác kiểm tra và đo lường trong một loạt các ứng dụng công nghiệp.​

Với các thông số kỹ thuật đo lường nghiêm ngặt ở mức kV cao, ZEISS METROTOM 800 320 kV là lựa chọn lý tưởng cho các ứng dụng đòi hỏi khắt khe như cánh tuabin hàng không vũ trụ, thiết bị cấy ghép y tế và các bộ phận bằng thép. Sản phẩm này tuân thủ tiêu chuẩn VDI/VDE 2630 1.3, đảm bảo độ chính xác đo lường cao nhất cho cả công tác kiểm soát chất lượng lẫn các cuộc kiểm tra quan trọng trên các hình học phức tạp.

Ống tia X trong hệ thống của chúng tôi hoạt động liên tục ở mức kV cao, không cần giai đoạn làm mát. Điều này đảm bảo thời gian hoạt động tối đa, cho phép thực hiện các lần quét liên tiếp mà không bị gián đoạn. Dù là trong các cuộc kiểm tra kéo dài hay xử lý khối lượng lớn tại dây chuyền sản xuất, ZEISS METROTOM 800 320 kV luôn mang lại hiệu suất và năng suất ổn định.

Khoảng cách từ nguồn phát đến đầu dò (SDD) ngắn giúp tăng tốc độ quét lên gấp 4 lần so với các hệ thống ZEISS METROTOM khác, tối ưu hóa thời gian đo kiểm cho các ứng dụng yêu cầu năng suất cao. Ngoài ra, công nghệ ZEISS scatterControl giúp giảm thiểu tối đa nhiễu xạ (artifacts), mang lại hình ảnh sắc nét với độ tương phản cao ngay cả trên các vật liệu mật độ cao – — sự kết hợp lý tưởng giữa tốc độ và chất lượng hình ảnh cho các bài kiểm tra công nghiệp khắt khe.